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远场快速测量技术-数控滚圆机滚弧机折弯机张家
添加时间:2019-07-14

采集
转载中国知网整理! http://www.gunyuanjixie.com源天线和被测天线分别连接到射频源和微波接收机的发射和输入端口,测试由主控计算机控制。该系统的测量方式是逐点采集数据,采集量多、精度高,但需耗费较长时间,测试效率低。可以发现,如能降低采集数量,同时又保留较多的有用信息,则可以提高测量效率。图1加QAIC结构的暗室测试系统示意图在压缩感知框架下,将信号稀疏采样测量与微波暗室测量技术相结合。在此基础上构建了微波暗室测试系统的结构,计算机控制信号发生器通过发射天线发出信号,微波接收机通过被测天线接收信号,接收的信号X(t)通过QAIC结构获取观测数据y。利用一个“伪随机调制解调器”和“低速采样器(ADC)”,形成一套可以实现模拟信息低速采样,并保证采样信号不丢失的转换器。上述方法是通过在原微波暗室测量系统的基础上,在计算机中设计一套基于QAIC结构的暗室测量系统的数据处理软件实现的。实验中调整信号采集的稀疏比(实际转变为控制转台控制器发送采集指令),控制采样点的数量,生成对应的观测数据值,再利用凸优化计算方法恢复稀疏数据。本次实验中使?远场快速测量技术-数控滚圆机滚弧机折弯机张家港电动液压滚圆机滚弧机折弯机本文由公司网站滚圆机网站
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